Sigpro - CARACTERIZACIÓN AVANZADA DE SILICIO NANOESTRUCTURADO PARA APLICACIONES EN DETECTORES QUÍMICOS

Proyecto

C3182 Desarrollo

CARACTERIZACIÓN AVANZADA DE SILICIO NANOESTRUCTURADO PARA APLICACIONES EN DETECTORES QUÍMICOS

Unidad responsable: CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN CIENCIAS E INGENIERIA DE MATERIALES
Tipo de investigación: BASICA
Estado del proyecto: DESARROLLO

Tipo de financiamiento: POR LA U.C.R.
Ubicación del proyecto: SAN JOSE, PROVINCIA
Tipo de Proyecto: PROYECTO
Periodo de vigencia: 2023 - 2025

Objetivos

CARACTERIZAR EL MATERIAL DE SILICIO NANOESTRUCTURADO MEDIANTE DIVERSAS TÉCNICAS Y ANALIZAR SU DESEMPEÑO COMO SENSOR DE SUSTANCIAS QUÍMICAS EN FASE DE VAPOR.

Descriptores

10567 - SEMICONDUCTOR
10969 - TECNOLOGÍA DE MATERIALES

Disciplinas

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Investigadores

Mostrando 4 investigadores

NOMBRE	PARTICIPACIÓN	FECHA DE INICIO	FECHA DE TÉRMINO
Ramirez Porras, Arturo	PRINCIPAL	01/01/2023	14/08/2023
Ramirez Porras, Arturo	PRINCIPAL	01/01/2024	31/12/2025
Ramirez Porras, Arturo	PRINCIPAL	15/08/2023	31/12/2023
Godinez Ramirez, Alexander	ESTUDIANTE	01/01/2023	31/12/2024

Vigencias

VIGENCIA	FECHA DE INICIO	FECHA DE TÉRMINO
ORIGINAL	01/01/2023	31/12/2025

Publicaciones Kerwá

TÍTULO	TIPO	AUTOR	FECHA
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