Sigpro - CARACTERIZACION ESTRUCTURAL AVANZADA DE NANOESTRUCTURAS Y SUPERFICIES

Proyecto

A4518 Terminado

CARACTERIZACION ESTRUCTURAL AVANZADA DE NANOESTRUCTURAS Y SUPERFICIES

Unidad responsable: CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN CIENCIAS E INGENIERIA DE MATERIALES
Tipo de investigación: BASICA
Estado del proyecto: TERMINADO

Tipo de financiamiento: POR LA U.C.R. Y ENTE EXTERNO
Ubicación del proyecto: SAN JOSE, MONTES DE OCA
Tipo de Proyecto: PROYECTO
Periodo de vigencia: 2004 - 2005

Objetivos

OBJETIVO GENERAL: CARACTERIZAR LA ESTRUCTURA CRISTALINA DE SISTEMAS NANOSCOPICOS (PELICU- LAS DELGADAS, ULTRADELGADAS Y MULTICAPAS) Y SUPERFICIES POR MEDIO DE LA TECNICA DE DIFRACCION DE ELECTRONES LENTOS (LEED).

Descriptores

4007 - MATERIALES MAGNETICOS

Disciplinas

INGENIERIA Y TECNOL. QUIMICA

Investigadores

Mostrando 1 investigadores

NOMBRE	PARTICIPACIÓN	FECHA DE INICIO	FECHA DE TÉRMINO
Araya Pochet, Jose A.	PRINCIPAL	01/11/2004	31/10/2005

Vigencias

VIGENCIA	FECHA DE INICIO	FECHA DE TÉRMINO
ORIGINAL	01/11/2004	31/10/2005

Publicaciones Kerwá

TÍTULO	TIPO	AUTOR	FECHA
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