Sigpro - DESARROLLO DE UN INSTRUMENTO PARA LA DETERMINACION DE ESTADOS ELECTRONICOS DE SUPERFICIE DE SEMI-CONDUCTORES.

Proyecto

A0079 Terminado

DESARROLLO DE UN INSTRUMENTO PARA LA DETERMINACION DE ESTADOS ELECTRONICOS DE SUPERFICIE DE SEMI-CONDUCTORES.

Unidad responsable: CENTRO DE INVESTIGACIÓN EN CIENCIAS E INGENIERIA DE MATERIALES
Tipo de investigación: INV. DES. TECNOLOGICO
Estado del proyecto: TERMINADO

Tipo de financiamiento: POR LA U.C.R.
Ubicación del proyecto: SAN JOSE, MONTES DE OCA
Tipo de Proyecto: PROYECTO
Periodo de vigencia: 2000 - 2002

Objetivos

OBJETIVO GENERAL: 1- DESARROLLAR HERRAMIENTAS DE SOFTWARE USANDO EL PAQUETE LabVIEW DE NA- TIONAL INTRUMENTS PARA WINDOWS QUE SIRVE PARA LA ADQUISICION DE DATOS REQUERIDO PARA EL ANALISIS DE LA DENSIDAD DE ESTADOS DE SUPERFICIE DE SEMICONDUCTORES.

Descriptores

584 - PROGRAMACION AUTOMATICA
1311 - PROGRAMACION DE COMPUTADORES
6296 - DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES

Disciplinas

CIENCIAS DE LA INGENIERIA

Investigadores

Mostrando 3 investigadores

NOMBRE	PARTICIPACIÓN	FECHA DE INICIO	FECHA DE TÉRMINO
Araya Pochet, Jose A.	RESPONSABLE	03/01/2000	30/12/2000
Ramirez Porras, Arturo	PRINCIPAL	02/01/2001	14/12/2002
Ramirez Porras, Arturo	PRINCIPAL	03/01/2000	30/12/2000

Vigencias

VIGENCIA	FECHA DE INICIO	FECHA DE TÉRMINO
RENOVACIÓN/AMPLIACIÓN	02/01/2002	14/12/2002
RENOVACIÓN/AMPLIACIÓN	02/01/2001	14/12/2001
ORIGINAL	03/01/2000	30/12/2000

Publicaciones Kerwá

TÍTULO	TIPO	AUTOR	FECHA
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